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SEMICON JapanはSEMIが主催する半導体をメインとした展示会です。ミツトヨブースでは『高度化する“はかる” に挑む｜画像測定のミツトヨ』をコンセプトに掲げ半導体製造工程の生産性向上を実現する各種ソリューションを紹介します。
ご来場の際には、事前に主催者ホームページより来場事前登録（登録無料）をお願いいたします。

●開催概要
[表: https://prtimes.jp/data/corp/114528/table/19_1_6d3c6ad36ea72ccdbfe1af0f6fcf25df.jpg ]

●出展製品
・非接触3D 計測システム　クイックビジョン WLI Pro シリーズ
└３D 計測システムによる半導体先端パッケージ基板の測定をご提案いたします。
・非接触変位センサ搭載CNC 画像測定機　クイックビジョンH4 Pro シリーズ
└ガラス基板の測定における高精度・ハイスループットを実現するご提案をいたします。　
・CNC 画像測定機　クイックビジョンPro シリーズ
└パワー半導体等の高速測定による生産性向上のご提案をいたします。
[画像2: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/19/114528-19-f1599ce30af5cd4f3532f45726fe3e2d-1825x1233.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
クイックビジョン　WLI/H4/Proシリーズ


・白色光干渉光学ユニット　WLI-Unit
・白色干渉測定用対物レンズWLI Plan Apo シリーズ
└白色光干渉による３D 形状測定を手軽に導入いただけるご提案をいたします。　
[画像3: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/19/114528-19-a8d7680c6dfb94bfa9a421c0d935e8f6-2737x1940.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
白色光干渉光学ユニット＋専用対物レンズWLI Plan Apo


・焦点距離可変レンズ　TAGLENS
└全焦点撮影を可能にしたTAGLENSに赤外線対応の顕微鏡システムを組み合わせ
透過観察をご提案致します。
[画像4: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/19/114528-19-7f513c2ed71387fd40c661c3d9ca34c5-1392x1132.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
TAGLENS-T1