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国際カンファレンス「SWTest Asia 2025」に出展
[25/11/19]
提供元：PRTIMES
提供元：PRTIMES
株式会社ヨコオ（本社：東京都千代田区、社長：徳間孝之）は、このたび、2025年11月20日〜22日の3日間、福岡県福岡市で開催される半導体ウエハーおよびダイレベルの測定にフォーカスした国際カンファレンス「SWTest Asia 2025」に出展し、技術論文発表を2つのテーマについて、ポスター掲示を1つのテーマについて行います。
■ 展示会概要
開催期間： 2025年11月20日(木)〜11月22日（土）
開催場所： ヒルトン福岡シーホーク（福岡県福岡市）
技術論文発表：
1. 11月21日(金) 11:30〜12:00
「A Compact OTA Measurement System with a Lens-Equipped Anechoic Chamber for Antenna-in-Package Modules」
2. 11月21日(金) 14:30〜15:00
「Opto-electronic probe card with single-mode fiber array for wafer-level PIC testing」
3. 11月20日（木）〜21日（金） （ポスター掲示）
「Evaluation of Palladium Alloy Probe with Suppressed Sn Diffusion Reaction」
■ SWTest Asia 2025について
SWTest（Semiconductor Wafer Test）はアメリカで30年以上の歴史を持つ、半導体ウエハーおよびダイレベルの測定にフォーカスした唯一の国際カンファレンスです。昨年に続き、今回「SWTest Asia 2025」が日本で開催されます。
（注）ニュースリリースに記載されている内容は報道発表日時点の情報です。その後、予告なしに変更する可能性があります。あらかじめご了承ください。
■ 展示会概要
開催期間： 2025年11月20日(木)〜11月22日（土）
開催場所： ヒルトン福岡シーホーク（福岡県福岡市）
技術論文発表：
1. 11月21日(金) 11:30〜12:00
「A Compact OTA Measurement System with a Lens-Equipped Anechoic Chamber for Antenna-in-Package Modules」
2. 11月21日(金) 14:30〜15:00
「Opto-electronic probe card with single-mode fiber array for wafer-level PIC testing」
3. 11月20日（木）〜21日（金） （ポスター掲示）
「Evaluation of Palladium Alloy Probe with Suppressed Sn Diffusion Reaction」
■ SWTest Asia 2025について
SWTest（Semiconductor Wafer Test）はアメリカで30年以上の歴史を持つ、半導体ウエハーおよびダイレベルの測定にフォーカスした唯一の国際カンファレンスです。昨年に続き、今回「SWTest Asia 2025」が日本で開催されます。
（注）ニュースリリースに記載されている内容は報道発表日時点の情報です。その後、予告なしに変更する可能性があります。あらかじめご了承ください。
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