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Sigray社のマイクロX線CT顕微鏡“Apex XCT”を発売
[22/01/25]
提供元：PRTIMES
提供元：PRTIMES
キヤノンマーケティングジャパン株式会社（代表取締役社長：足立正親、以下キヤノンMJ）は、国内独占販売契約を締結しているSigray（シグレイ）社（Sigray, Inc.、本社：アメリカ合衆国カリフォルニア州コンコード市、CEO：Dr. Wenbing Yun）製のマイクロX線CT顕微鏡“Apex XCT（エイペックス エックスシーティー）”を2022年1月25日より発売します。
[画像1: https://prtimes.jp/i/13943/801/resize/d13943-801-232a931164939f492fde-0.jpg ]
https://cweb.canon.jp/indtech/sigray/lineup/Apex/index.html
このたびキヤノンMJは、Sigray社製マイクロX線CT顕微鏡※1 “Apex XCT”を、2022年1月25日より発売します。“Apex XCT”は、大きな平板状のサンプルを、高空間分解能※2、高スループット※3で測定することが可能です。
近年、半導体需要の急増に伴い、故障解析や研究開発における非破壊分析のニーズが高まっています。一方で、半導体部品は、金属材料と高分子材料（樹脂材料）が積層構造になっており、これらの材料はX線吸収率が大きく異なるため、非破壊での故障解析や品質管理が困難でした。
この課題に対し“Apex XCT”は、特許出願中のSigray社独自の装置機構により、サブミクロン空間分解能においても、最大直径300mmサイズまでのサンプルを切り出すことなく、約15分間※4で測定することが可能になりました。これにより、大きなサンプルにおける内部構造の可視化に貢献します。
今後もキヤノンMJは、X線分析のニーズの高まりに応え、X線CT装置市場の活性化だけでなく、今まで困難であったアプリケーションの分析にソリューションが提供できるよう、商品ラインアップを拡充し、分析ソリューション事業を拡大していきます。
※1 X線CT顕微鏡（コンピューター断層撮影装置）は、半導体部品（パッケージ、プリント基板、ウエハー）、高機能材料（リチウムイオン電池、全固体電池、燃料電池）、ソフトマテリアル（炭素繊維、高分子材料、ゴム）などの内部構造の解析・検査に利用されています。
※2 近い距離にある２つの物体を識別できる能力のこと。識別できる距離が短い程空間分解能が高い。
※3 短時間で測定できる能力のこと。
※4 シリコンウエハーの場合
[表: https://prtimes.jp/data/corp/13943/table/801_1_9efcf343e8e60e14e93839e84feae0ad.jpg ]
※5 標準仕様の場合。装置構成や為替レートにより価格は変動します。
一般の方のお問い合わせ先 ：キヤノンマーケティングジャパン株式会社 産業機器事業部 営業部 営業第一課 03-3740-3334
X線分析装置ホームページ ：https://cweb.canon.jp/indtech/sigray/index.html
＜マイクロX線CT顕微鏡“Apex XCT”の主な特長＞
・サブミクロン空間分解能を実現
・半導体部品（パッケージ、プリント基板、ウエハー）など、平板状サンプルにおいて、従来のSigray社製マイクロX線CT顕微鏡と比較して、約10倍の高スループットを実現
・15分以内で、高品質トモグラフィーデータを取得可能
・最大直径300mmまでの平板状サンプルを高速測定可能な、特許出願中の装置構造を搭載
■ 観察対象例
・半導体部品（パッケージ、プリント基板、ウエハー）
・高機能材料（リチウムイオン電池、全固体電池、燃料電池など）
・ソフトマテリアル（炭素繊維、高分子材料、ゴムなど）
■ 半導体部品の故障解析例
[画像2: https://prtimes.jp/i/13943/801/resize/d13943-801-48395123ca7fde0902b2-1.png ]
従来のCTでは、50時間以上の測定時間でも検出できない再配線層のき裂やボイドが、サブミクロンレベル空間分解能で、わずか30分間※5で測定できます。
※5サンプルに含まれる材料により、測定時間は変わります。
■ 高速、非破壊、3Dレンダリング画像例
[画像3: https://prtimes.jp/i/13943/801/resize/d13943-801-7a5f5e198177f8b8fa22-2.png ]
平板状の動作可能な状態のグラフィックカードのGPUを1ミクロンボクセルサイズで、測定時間34分間※6で、非破壊撮像しました。
※6サンプルに含まれる材料により、測定時間は変わります。
■ ビームハードニングアーティファクトの無い3Dコントラスト画像例
[画像4: https://prtimes.jp/i/13943/801/resize/d13943-801-4bf4fced85471efd722b-3.png ]
“Apex XCT”は、従来CTのようにビームハードニングアーティファクトの影響を受けません。特許出願中の独自の装置構造により、半導体検査やファクトリーオートメーションで3D
X線イメージングに影響を与えるアーティファクトの多くが軽減され、短時間で鮮明で綺麗な画像再構成が可能になりました。
＜Sigray社の概要＞
社名：Sigray, Inc.
設立：2013年
本社所在地：5750 Imhoff Drive, Suite I, Concord CA 94520 USA
社員数：60名※2021年11月時点
事業内容：各種X 線装置およびコンポーネントの販売とサービスの提供
保有知財：成立特許40※件 ※2021年11月時点
ホームページ：http://www.sigray.com/
[画像1: https://prtimes.jp/i/13943/801/resize/d13943-801-232a931164939f492fde-0.jpg ]
https://cweb.canon.jp/indtech/sigray/lineup/Apex/index.html
このたびキヤノンMJは、Sigray社製マイクロX線CT顕微鏡※1 “Apex XCT”を、2022年1月25日より発売します。“Apex XCT”は、大きな平板状のサンプルを、高空間分解能※2、高スループット※3で測定することが可能です。
近年、半導体需要の急増に伴い、故障解析や研究開発における非破壊分析のニーズが高まっています。一方で、半導体部品は、金属材料と高分子材料（樹脂材料）が積層構造になっており、これらの材料はX線吸収率が大きく異なるため、非破壊での故障解析や品質管理が困難でした。
この課題に対し“Apex XCT”は、特許出願中のSigray社独自の装置機構により、サブミクロン空間分解能においても、最大直径300mmサイズまでのサンプルを切り出すことなく、約15分間※4で測定することが可能になりました。これにより、大きなサンプルにおける内部構造の可視化に貢献します。
今後もキヤノンMJは、X線分析のニーズの高まりに応え、X線CT装置市場の活性化だけでなく、今まで困難であったアプリケーションの分析にソリューションが提供できるよう、商品ラインアップを拡充し、分析ソリューション事業を拡大していきます。
※1 X線CT顕微鏡（コンピューター断層撮影装置）は、半導体部品（パッケージ、プリント基板、ウエハー）、高機能材料（リチウムイオン電池、全固体電池、燃料電池）、ソフトマテリアル（炭素繊維、高分子材料、ゴム）などの内部構造の解析・検査に利用されています。
※2 近い距離にある２つの物体を識別できる能力のこと。識別できる距離が短い程空間分解能が高い。
※3 短時間で測定できる能力のこと。
※4 シリコンウエハーの場合
[表: https://prtimes.jp/data/corp/13943/table/801_1_9efcf343e8e60e14e93839e84feae0ad.jpg ]
※5 標準仕様の場合。装置構成や為替レートにより価格は変動します。
一般の方のお問い合わせ先 ：キヤノンマーケティングジャパン株式会社 産業機器事業部 営業部 営業第一課 03-3740-3334
X線分析装置ホームページ ：https://cweb.canon.jp/indtech/sigray/index.html
＜マイクロX線CT顕微鏡“Apex XCT”の主な特長＞
・サブミクロン空間分解能を実現
・半導体部品（パッケージ、プリント基板、ウエハー）など、平板状サンプルにおいて、従来のSigray社製マイクロX線CT顕微鏡と比較して、約10倍の高スループットを実現
・15分以内で、高品質トモグラフィーデータを取得可能
・最大直径300mmまでの平板状サンプルを高速測定可能な、特許出願中の装置構造を搭載
■ 観察対象例
・半導体部品（パッケージ、プリント基板、ウエハー）
・高機能材料（リチウムイオン電池、全固体電池、燃料電池など）
・ソフトマテリアル（炭素繊維、高分子材料、ゴムなど）
■ 半導体部品の故障解析例
[画像2: https://prtimes.jp/i/13943/801/resize/d13943-801-48395123ca7fde0902b2-1.png ]
従来のCTでは、50時間以上の測定時間でも検出できない再配線層のき裂やボイドが、サブミクロンレベル空間分解能で、わずか30分間※5で測定できます。
※5サンプルに含まれる材料により、測定時間は変わります。
■ 高速、非破壊、3Dレンダリング画像例
[画像3: https://prtimes.jp/i/13943/801/resize/d13943-801-7a5f5e198177f8b8fa22-2.png ]
平板状の動作可能な状態のグラフィックカードのGPUを1ミクロンボクセルサイズで、測定時間34分間※6で、非破壊撮像しました。
※6サンプルに含まれる材料により、測定時間は変わります。
■ ビームハードニングアーティファクトの無い3Dコントラスト画像例
[画像4: https://prtimes.jp/i/13943/801/resize/d13943-801-4bf4fced85471efd722b-3.png ]
“Apex XCT”は、従来CTのようにビームハードニングアーティファクトの影響を受けません。特許出願中の独自の装置構造により、半導体検査やファクトリーオートメーションで3D
X線イメージングに影響を与えるアーティファクトの多くが軽減され、短時間で鮮明で綺麗な画像再構成が可能になりました。
＜Sigray社の概要＞
社名：Sigray, Inc.
設立：2013年
本社所在地：5750 Imhoff Drive, Suite I, Concord CA 94520 USA
社員数：60名※2021年11月時点
事業内容：各種X 線装置およびコンポーネントの販売とサービスの提供
保有知財：成立特許40※件 ※2021年11月時点
ホームページ：http://www.sigray.com/
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