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デスクトップで簡単に使える3D 画像検査装置「3D-Eye スキャナー」を発売。
[11/02/28]
提供元：DreamNews
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日本エフ・エーシステム株式会社（本社：横浜市港北区、代表取締役社長：小國勇）は、2011年3月2日、研究開発向けの3D画像検査装置「3D-Eyeスキャナー」を発売します。
3D画像検査装置「3D-Eyeスキャナー」は、研究開発や品質管理用途で3次元形状測定を行うための簡易型卓上検査装置です。3Dカメラとレーザ光源により、対象物の表面形状を高精度に計測・検査でき、レーザによる線光源が検査ワークの輪郭形状を高さデータとして取り込むことで、外観色調の影響を受けずに表面の欠陥を定量化した数値で判定し、安定した外観検査が可能となります。
高精度な3D画像検査が行える一方で、320×250×375mm（W×D×H）のコンパクトサイズ、Windowsベースの直感的なインタフェースなど、デスクトップマシンに適した仕様と機能を実現しています。
検査用途としては、電子部品の検査・計測、食品・医薬品の外観検査、素材の外観検査など、量産前の研究開発段階でのチェックや量産時のオフラインでの品質チェックを想定しています。
なお、当製品は3月2日から東京ビッグサイトで開催される「第2回国際二次電池展（バッテリージャパン）」ならびに、4月13日から東京ビッグサイトで開催される「第2回高機能フィルム技術展」に出展します。
今後も日本エフ・エーシステムは産業用画像検査装置のシステムインテグレータとして、高速・高精細の画像処理技術を幅広くご提供していきます。
■仕様
測定範囲 X 軸ストローク：100mm、Ｙ軸測定可能範囲15mm、Ｚ軸測定可能段差：1mm 以下※
Z 軸可動範囲 Ｚ軸ストローク：50mm
測定分解能 X 軸：10μm、Y 軸：10μm、Z 軸：0.89μm
最大駆動速度 100mm/sec
PC/モニタ OS：Windows 7 Professional、モニタ：23.6 型ワイド液晶
寸法 320×250×375mm（W×D×H）
※測定範囲は約5mm
■国内販売数目標（2011 年）
50 台
■主要販売先
半導体業界、電子部品業界、食品業界、医薬品業界、素材業界など
■会社概要
日本エフ・エーシステム株式会社（2010 年12 月現在）
商号 ：日本エフ・エーシステム株式会社
所在地 ：横浜市港北区新横浜3 丁目23 番3 号 新横浜AK ビル
設立 ：1991 年6 月12 日
代表取締役 ：小國 勇
資本金 ：80,000 千円
事業内容 ：産業用画像機器の開発、設計、製造、輸出入、販売及びコンサルタント業務
従業員数 ：15 名
親会社 ：オプテックス・エフエー株式会社（100％出資）
【本件に関するお問合せ先】
日本エフ・エーシステム株式会社
技術営業部 茂木 和哉 （E-mail: sales@jfas.co.jp）
〒222-0033 横浜市港北区新横浜3 丁目23 番3 号 新横浜AK ビル
TEL: 045-476-0880 FAX: 045-476-0885
URL: http://www.jfas.co.jp/
オプテックス・エフエー株式会社 【JASDAQ：6661】
営業企画室 石谷 高宏（E-mail: fa@optex-fa.com）
〒600-8815 京都市下京区中堂寺粟田町91 京都リサーチパーク9 号館4F
TEL: 075-325-2920 FAX: 075-325-2921
URL: http://www.optex-fa.jp
3D画像検査装置「3D-Eyeスキャナー」は、研究開発や品質管理用途で3次元形状測定を行うための簡易型卓上検査装置です。3Dカメラとレーザ光源により、対象物の表面形状を高精度に計測・検査でき、レーザによる線光源が検査ワークの輪郭形状を高さデータとして取り込むことで、外観色調の影響を受けずに表面の欠陥を定量化した数値で判定し、安定した外観検査が可能となります。
高精度な3D画像検査が行える一方で、320×250×375mm（W×D×H）のコンパクトサイズ、Windowsベースの直感的なインタフェースなど、デスクトップマシンに適した仕様と機能を実現しています。
検査用途としては、電子部品の検査・計測、食品・医薬品の外観検査、素材の外観検査など、量産前の研究開発段階でのチェックや量産時のオフラインでの品質チェックを想定しています。
なお、当製品は3月2日から東京ビッグサイトで開催される「第2回国際二次電池展（バッテリージャパン）」ならびに、4月13日から東京ビッグサイトで開催される「第2回高機能フィルム技術展」に出展します。
今後も日本エフ・エーシステムは産業用画像検査装置のシステムインテグレータとして、高速・高精細の画像処理技術を幅広くご提供していきます。
■仕様
測定範囲 X 軸ストローク：100mm、Ｙ軸測定可能範囲15mm、Ｚ軸測定可能段差：1mm 以下※
Z 軸可動範囲 Ｚ軸ストローク：50mm
測定分解能 X 軸：10μm、Y 軸：10μm、Z 軸：0.89μm
最大駆動速度 100mm/sec
PC/モニタ OS：Windows 7 Professional、モニタ：23.6 型ワイド液晶
寸法 320×250×375mm（W×D×H）
※測定範囲は約5mm
■国内販売数目標（2011 年）
50 台
■主要販売先
半導体業界、電子部品業界、食品業界、医薬品業界、素材業界など
■会社概要
日本エフ・エーシステム株式会社（2010 年12 月現在）
商号 ：日本エフ・エーシステム株式会社
所在地 ：横浜市港北区新横浜3 丁目23 番3 号 新横浜AK ビル
設立 ：1991 年6 月12 日
代表取締役 ：小國 勇
資本金 ：80,000 千円
事業内容 ：産業用画像機器の開発、設計、製造、輸出入、販売及びコンサルタント業務
従業員数 ：15 名
親会社 ：オプテックス・エフエー株式会社（100％出資）
【本件に関するお問合せ先】
日本エフ・エーシステム株式会社
技術営業部 茂木 和哉 （E-mail: sales@jfas.co.jp）
〒222-0033 横浜市港北区新横浜3 丁目23 番3 号 新横浜AK ビル
TEL: 045-476-0880 FAX: 045-476-0885
URL: http://www.jfas.co.jp/
オプテックス・エフエー株式会社 【JASDAQ：6661】
営業企画室 石谷 高宏（E-mail: fa@optex-fa.com）
〒600-8815 京都市下京区中堂寺粟田町91 京都リサーチパーク9 号館4F
TEL: 075-325-2920 FAX: 075-325-2921
URL: http://www.optex-fa.jp
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