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製造したＩＣキャッシュカード、スマートフォーンによる決済システムを実現するためには、国際的なデファクト・スタンダードであるカードおよびリーダライタ間の規格に準拠した認証を受ける必要があります。
そのなかで、ＮＦＣフォーラム＆ＥＭＶ準拠に対する認証が必須となってきております。
その認証を受ける前に、事前にデバッグテストができるツールを用意しないといけないというニーズが高まっています。

ポジティブワンでは、ベンダの製造した製品が他のベンダの製造した製品と安定的に相互利用されるためのデバッグテストツール、アナライザツール、ＮＦＣフォーラムやＥＭＶ準拠の磁界強度計測テスト治具の提案をしています。
当セミナーでは、これらのテストツールのご紹介と併せてデモンストレーションを行いますので、製品の機能を身近でご確認いただけます。

◆日時　平成２５年４月１７日（水）
受付開始　１３：５０
セミナー時間　１４：００〜１６：００

◆場所　渋谷マークシティウエスト２２階
　　　　東京都渋谷区道玄坂１−１２−１渋谷マークシティウエスト２２階

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当セミナーへ出席をご希望の方は、必要事項をご記入の上、下記アドレス宛へお申し込みください。

□貴社名
□貴部署名
□ご氏名
□ご興味のあるテスト

なお、お申し込みは、会場設置の都合上、４月１２日（金）頃までにお願いいたします。
定員オーバーの場合、お断りすることがございます。
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＜お申し込み先＞
ポジティブワン株式会社
営業本部スマートカードツール・グループ
メールアドレス：poc_sales@positive-one.com
電話：03-5330-8648

以上